Početna stranica
Vijesti
Prevođenje
Projekt
Forum
Pomoć
Korisnici
Login
Registracija
. .
•Profil
kazandibi00
▪▪Svi prijevodi
•Traženi prijevodi
•
Omiljeni prijevodi
•Spisak projekata
•Primljene poruke
▪Besplatna razmjena jezika
•English
•Türkçe
•Français
•Español
•Italiano
•Português brasileiro
•Deutsch
•Română
•عربي
•Русский
•Svenska
•Ελληνικά
•Български
•עברית
•Shqip
•Srpski
•Nederlands
•Dansk
•Português
•Polski
•汉语(简体)
•Lietuvių
•Norsk
•فارسی
•Suomi
▪▪Hrvatski
•日本語
•Català
•Esperanto
•한국어
•Українська
•Føroyskt
•नेपाली
•Kiswahili
Svi prijevodi
Tražilica
Svi prijevodi - kazandibi00
Tražilica
Izvorni jezik
Ciljni jezik
Rezultati 1 - 2 od približno 2
1
411
Izvorni jezik
özet
The atomic force microscope (AFM) is ideally suited for characterizing nanoparticles. It offers the capability of 3D
visualization and both qualitative and quantitative information on many physical properties including size, morphology,
surface texture and roughness. Statistical information, including size, surface area, and volume distributions,
can be determined as well. A wide range of particle sizes can be characterized in the same scan, from 1 nanometer
to 8 micrometers.
Dovršeni prijevodi
Atomik Kuvvet Mikroskopu
1